TSDC技術(shù)可以研究材料弛豫時(shí)間 活化能等介電特性

HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀，由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有*測(cè)試功能，設(shè)備支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電譜等測(cè)量功能。它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量，僅用一臺(tái)HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀就能取代功能材料測(cè)試眾多儀器的測(cè)量功能！

廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

測(cè)試功能：

熱釋電測(cè)試

漏電流測(cè)試

用戶定義激勵(lì)波形