寬頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)（華測(cè)儀器）

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器研發(fā)生產(chǎn)，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論開(kāi)發(fā)的綜合型絕緣分析系統(tǒng)，集介電響應(yīng)測(cè)試、絕緣狀態(tài)評(píng)估及故障診斷功能于一體，適用于高壓器件、交聯(lián)聚乙烯（PEX）等各類絕緣材料的介電常數(shù)與介電損耗測(cè)試，同時(shí)可對(duì)容性、感性負(fù)載（尤其旁路電抗器）開(kāi)展介電特性分析。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)以鎖相放大器為工作原理，搭配高壓功率放大器，憑借測(cè)量精度與運(yùn)行穩(wěn)定性，可實(shí)現(xiàn)對(duì)不同類型負(fù)載介電參數(shù)的測(cè)試。在操作便捷性與功能性上具備顯著優(yōu)勢(shì)：支持手動(dòng)/自動(dòng)雙模式靈活切換，且兩種模式均具備簡(jiǎn)易操作特性，配備Huace Pro軟件可全程輔助試驗(yàn)準(zhǔn)備、試驗(yàn)執(zhí)行及數(shù)據(jù)趨勢(shì)分析；手動(dòng)模式適用于單點(diǎn)參數(shù)的精細(xì)化測(cè)試，自動(dòng)模式可預(yù)設(shè)試驗(yàn)流程，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)化的自動(dòng)化試驗(yàn)序列，滿足多樣化測(cè)試需求。

  介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)提供完整的測(cè)試系統(tǒng)配置，包括標(biāo)準(zhǔn)電容、標(biāo)準(zhǔn)損耗器、測(cè)試電極等組件，無(wú)需額外搭配輔助設(shè)備即可開(kāi)展試驗(yàn)，提升測(cè)試效率。系統(tǒng)具備1mHz~1kHz的寬頻率測(cè)試范圍，可測(cè)量不同頻率下各類絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗參數(shù)，為絕緣材料高頻、低頻介電特性分析提供數(shù)據(jù)支撐。針對(duì)低頻測(cè)試場(chǎng)景，系統(tǒng)支持靈活選配測(cè)試方式，在保障測(cè)試精度的同時(shí)，可縮短實(shí)驗(yàn)室測(cè)量的等待時(shí)長(zhǎng)及現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的設(shè)備停電時(shí)間，提升測(cè)試效率。

       介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)電容測(cè)量準(zhǔn)確度達(dá)0.02%，介損測(cè)量準(zhǔn)確度達(dá)1×10^-5，可滿足試驗(yàn)需求。同時(shí)集成附加信號(hào)分析功能，內(nèi)置圖譜分析、數(shù)字示波器及數(shù)據(jù)記錄模塊，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的實(shí)時(shí)監(jiān)控與數(shù)據(jù)的解析。設(shè)備采用緊湊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，具備可靠的EMC（電磁兼容）固化設(shè)計(jì)，可適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)等多種復(fù)雜環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行。

  介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)置工業(yè)級(jí)計(jì)算機(jī)，配備USB等標(biāo)準(zhǔn)化接口，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的導(dǎo)出、處理與分析，為試驗(yàn)報(bào)告編寫及絕緣性能評(píng)估提供數(shù)據(jù)支撐，是針對(duì)絕緣材料介電特性測(cè)試場(chǎng)景優(yōu)化設(shè)計(jì)的分析設(shè)備。