表面電位衰減測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學(xué)特性研究的多功能分析設(shè)備，是為評估介質(zhì)材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設(shè)計，集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動態(tài)響應(yīng)，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領(lǐng)域的質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。

產(chǎn)品優(yōu)勢

高壓極化與準(zhǔn)確控制

支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負(fù)載調(diào)整率≤0.5%，穩(wěn)定性≤0.1%/h，確保極化過程穩(wěn)定可靠；

控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結(jié)合濕度可調(diào)電極箱體，滿足復(fù)雜環(huán)境模擬需求。

高靈敏測量與快速響應(yīng)

電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應(yīng)，準(zhǔn)確捕捉瞬態(tài)電位變化；

配備采集卡與中文分析軟件，自動提取陷阱分布參數(shù)，一鍵生成衰減曲線及分析報告。

靈活電極配置與集成化設(shè)計

提供銀/黃銅材質(zhì)針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態(tài)可調(diào)，適配不同樣品形態(tài)與測試場景；

 集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊，提升實驗效率與重復(fù)性。

高穩(wěn)定性與防護性

電壓調(diào)整率≤0.1%，溫度系數(shù)≤0.1%/℃，確保長時間測試數(shù)據(jù)一致性；輸出電流局限≤1 mA，符合高壓操作防護標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)

充電電源：±30 kV

加熱臺溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃

控溫精度：± 0.2 ℃

輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ

額定輸出電壓：0～+30kV

額定輸出電流：≤ 1 mA

電壓調(diào)整率：≤ 0.1%

溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃

測量范圍：0 ~ ±10 kV

穩(wěn)定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃

應(yīng)用領(lǐng)域

絕緣材料研發(fā)

評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng)；

半導(dǎo)體器件優(yōu)化

表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性；

科研與教育

高校及實驗室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實驗；

電力設(shè)備質(zhì)檢

檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測。