從1mHz到10kHz，高電場介電損耗與漏電流準確測量

在高電場作用下，材料介電極化行為、介質損耗特性及微弱漏電流易受場強、頻率、溫度及外界電磁干擾影響，導致測試數據漂移、重復性差、真實性能難以準確表征。如何在復雜工況下實現測得準、測得穩、測得全，是介電材料、絕緣材料、功能陶瓷及電子器件研發與質控的關鍵痛點。

華測儀器高電場介電、損耗、漏電流測試系統，是為強場電性能準確表征而設計。整機采用全集成一體式硬件架構，將 FPGA 高速主控、高準度高壓放大模塊與高性能鎖相檢測單元協同工作，從信號發生、高壓輸出到微弱電流采集全程閉環控制，大幅優化系統穩定性與信噪比。

系統搭載AC DFR 介電頻率響應技術，直接原位測量材料介電頻譜特性，摒棄傳統間接換算帶來的誤差累積，具備強抗干擾能力，即便在高電場、高噪聲工業與科研環境中，仍能確保測試數據準確可靠、長期穩定。

頻率覆蓋1mHz 至 10kHz寬頻域，輸出電壓0～500V連續可調，高壓響應速度可達150V/μs，可跟隨動態波形，滿足強場、瞬態電場下的材料性能測試需求。電流檢測靈敏度可至2×10^-13A，阻抗測量上限可達10^15Ω，準確捕捉極小漏電流與高絕緣材料的微弱電信號。

搭配環境箱與液氮控溫模塊，實現-80℃至 230℃寬溫區連續變溫測試，真實還原材料在復雜溫度與強電場耦合環境下的服役行為。系統支持同步采集介電常數、介質損耗、漏電流、阻抗、電導率等全維度參數，無需多次切換測試設備，數據一致性更強、測試效率更高。

同時支持自定義電壓波形輸出，可模擬多種實際工況電場，為材料篩選、機理研究、失效分析及器件可靠性評估提供完整的測試解決方案。