陶瓷 / 薄膜電容溫度特性測試系統

產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H陶瓷 / 薄膜電容溫度特性測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H陶瓷 / 薄膜電容溫度特性測試系統由華測儀器生產，系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。

產品優勢

1、至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數，至多64個通道。

2、圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。

3、可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相結合。

產品參數

通道配置：8通道（標準）；至多64通道

測量方法：交流四端對

直流偏壓：0~±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償